Metrologidagen er en tilbagevendende årlig heldagskonference om metrologi. Dagen arrangeres i år af Teknologisk Institut i samarbejde med DFM og FORCE Technology.

Metrologidagen afholdes årligt som en fejring af underskrivelsen af meterkonventionen den 20. maj 1875 af repræsentanter fra 17 nationer.

De faste rammer, traktaten sætter, danner grundlaget for et verdensomspændende sammenhængende målesystem, der understøtter videnskabelige opdagelser og innovation, industriel produktion og international handel, samt beskyttelsen af det globale miljø.

Målet med konventionen - at skabe ensartethed i målinger - er i dag mindst lige så relevant, som da konventionen oprindeligt blev underskrevet i 1875.

Posters
Hvis man ønsker at have en poster med på dagen, skal man kontakte Eva Jacobsen på evj@teknologisk.dk.

Metrologidagen er støttet af Uddannelses- og Forskningsstyrelsen under Uddannelses- og Forskningsministeriet.
 
Program
09:30: Morgenmad, registrering og posters
10:00: Velkomst
Divisionsdirektør David Tveit, Teknologisk Institut
10:10: Introduktion til metrologidagen
Adm. direktør Michael Kjær, DFM
10:25: Metrologi i dansk industri, hvorfor og hvordan?
John Domino, Kamstrup A/S
Mikkel Bollesen, Teknologisk Institut
11:00: Fremtidens automatisering med digitale kalibreringscertifikater
Tove Søgaard, Dandiag A/S
David Balslev-Harder, DFM
Jonas Vind, Teknologisk Institut
12:00: Frokost, netværk og posters
12:45: Laboratoriebesøg, demonstration af kalibrering, fra DCR til DCC
13:30: Automatiseret emneopmåling
Jari Ojala, Teknologisk Institut
14:00: Måling af mikroflow og test af medikoudstyr
Henrik Kjeldsen, Teknologisk Institut
14:20: Kaffe, netværk og posters
14:40: Udvikling af biosensor til klinisk brug
Thomas Emil Andersen, Associate Professor, Department of Clinical Research, OUH
Mikael Lassen, DFM
15:20: Kort opsamling og afslutning